Stationaire metaalanalyse
Stationaire metaal analyse
Stationaire metaal analyse
Naadloze kwaliteitscontrole is essentieel voor elk type metaalproductie. Denk hierbij aan de analyse van ongewenste elementen in schroot, de inkomende goedereninspectie, de procescontrole bij de smelter en de uiteindelijke kwaliteitscontrole van uitgaande goederen.
Optische emissiespectroscopie, of kortweg OES, is een bewezen en veelgebruikte analytische techniek voor het bepalen van de elementaire samenstelling van een grote verscheidenheid aan metalen.
Met de nieuwste CMOS- en CCD-technologie bieden onze stationaire vonkspectrometers het hoogste niveau van nauwkeurigheid en precisie van de analytische resultaten gedurende de gehele levenscyclus en analyseren ze kritische sporten- en zaadelementen met lage detectielimieten. De unieke vonkenstandaard is van drie kanten toegankelijk. Dit maakt onze vonkenspectrometers de ideale keuze voor monsters met complexe en onregelmatige vormen en afmetingen.
Voordelen OES
- Analyse van de meeste metalen en hun legeringen en vrijwel alle relevante elementen, zelfs kritische sporen- en kiemelementen met lage detectielimieten.
- Zeer breed scala aan elementen, omvat bijna alle relevante elementen (deels inclusief stikstof in duplex staal).
- Aanpasbare kalibratie.
- Multi-CCD of multi-CMOS-optiek met hoge resolutie voor maximale spectraallijnscheiding.
- Geïntegreerde uitgebreide materiaaldatabase voor snel en eenvoudig sorteren van materialen.
- Zeer korten opstart- en meettijd.
- Vonkenstandaard toegankelijk van drie zijden, geschikt voor exemplaren met complexe en onregelmatige vormen.
- Resultaten met één druk op de knop: concentratie, materiaal-ID, intensiteiten en statische gegevens.
- Uitstekenede stabiliteit op lange termijn dankzij constante piekbewaking.
- Optisch vacuümsysteem: stabiliteit, geen piekverschuiving door veranderingen in luchtdruk.
